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电子材料与器件实验
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第一部分　基础性实验

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2025-03-25 07:22:00
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  • 第一部分　基础性实验
    • 实验一　四探针法测量半导体电阻率
    • 实验二　椭圆偏振法测量薄膜厚度和折射率
    • 实验三　激光测定单晶硅的晶向
    • 实验四　荧光分光光度计测试半导体光致发光
    • 实验五　紫外-可见分光光度计测试光谱
    • 实验六　MOS结构的高频电容-电压特性测试
    • 实验七　半导体材料的霍尔系数和电阻率
    • 实验八　半导体材料的塞贝克系数测定
    • 实验九　光刻工艺
  • 第二部分　提高性实验
    • 实验十　肖特基二极管的伏安特性测量
    • 实验十一　电感耦合等离子体化学气相沉积法制备硅基薄膜
    • 实验十二　射频溅射法沉积氧化物薄膜
    • 实验十三　热丝化学气相沉积制备非晶碳基薄膜
    • 实验十四　场效应晶体管的性能测定
    • 实验十五　太阳能电池参数测定
  • 第三部分　创新性实验
    • 实验十六　静电纺丝制备半导体纳米材料
    • 实验十七　微弱电能信号的测量与收集
    • 实验十八　光化学电池型自供能紫外探测器
    • 实验十九　锂离子电池的组装与性能
    • 实验二十　超级电容器的性能测量
    • 实验二十一　纳米氧化物半导体材料TiO2光催化性能
    • 实验二十二　气敏传感器的组装与性能
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